WEKO3
アイテム
Low frequency fluctuation study using a microwave interferometer and Hα line emission measurement systems in the Pilot-PSI device
http://hdl.handle.net/2241/00160210
http://hdl.handle.net/2241/00160210bdb94b82-1147-44a8-b476-065def525b38
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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AIPAdv_9-085225.pdf (4.6 MB)
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.png)
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| Item type | Journal Article(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-25 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Low frequency fluctuation study using a microwave interferometer and Hα line emission measurement systems in the Pilot-PSI device | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||||||
| 著者 |
吉川, 正志
× 吉川, 正志× 小波藏, 純子
WEKO
157129
× 坂本, 瑞樹× Meiden, H. v. d.× AL, R.× Vernimmen, J.× Shima, Y.× Nakashima, Y. |
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| 書誌情報 |
en : AIP Advances 巻 9, 号 8, p. 085225, 発行日 2019-08 |
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| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 2158-3226 | |||||||||||
| DOI | ||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1063/1.5099648 | |||||||||||
| 権利情報 | ||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 権利情報 | © 2019 Author(s). All article content, except where otherwise noted, is licensed under a Creative Commons Attribution (CC BY) license (http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/). https://doi.org/10.1063/1.5099648 | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | American Institute of Physics | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
