WEKO3
アイテム
シリコンカーバイドパワーMOSFETsの破壊耐量ならびにそのメカニズムに関する研究
https://doi.org/10.15068/00152360
https://doi.org/10.15068/00152360f06e564a-e2f3-45f5-8eff-ee1c2e0c792d
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
DA08480.pdf (3.2 MB)
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| Item type | Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2018-07-05 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Study on Robustness Issues and Related Mechanisms for Silicon Carbide Power MOSFETs | |||||
| 言語 | en | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | シリコンカーバイドパワーMOSFETsの破壊耐量ならびにそのメカニズムに関する研究 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| 資源タイプ | thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.15068/00152360 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | open access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
| 著者 |
安, 俊傑
× 安, 俊傑 |
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| 書誌情報 |
発行日 2018 |
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| 取得学位 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 学位名 | 博士（工学） | |||||
| 取得学位 | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 学位名 | Doctor of Philosophy in Engineering | |||||
| 学位授与大学 | ||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||
| 学位授与機関識別子 | 12102 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| 学位授与機関名 | 筑波大学 | |||||
| 言語 | en | |||||
| 学位授与機関名 | University of Tsukuba | |||||
| 学位授与年度 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 2017 | |||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2018-03-23 | |||||
| 報告番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 甲第8480号 | |||||
