WEKO3
アイテム
シリコンカーバイドパワーMOSFETsの破壊耐量ならびにそのメカニズムに関する研究
https://doi.org/10.15068/00152360
https://doi.org/10.15068/00152360f06e564a-e2f3-45f5-8eff-ee1c2e0c792d
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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DA08480.pdf (3.2 MB)
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| Item type | アイテムタイプT(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2018-07-05 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Study on Robustness Issues and Related Mechanisms for Silicon Carbide Power MOSFETs | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | シリコンカーバイドパワーMOSFETsの破壊耐量ならびにそのメカニズムに関する研究 | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||||
| ID登録 | ||||||||||
| ID登録 | 10.15068/00152360 | |||||||||
| 著者 |
安, 俊傑
× 安, 俊傑
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| 書誌情報 |
発行日 2018 |
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| アクセス権 | ||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||
| 取得学位 | ||||||||||
| 学位名 | 博士（工学） | |||||||||
| 取得学位 | ||||||||||
| 学位名 | Doctor of Philosophy in Engineering | |||||||||
| 学位授与大学 | ||||||||||
| 学位授与機関名 | 筑波大学 | |||||||||
| 学位授与機関名 | University of Tsukuba | |||||||||
| 学位授与年度 | ||||||||||
| 内容記述 | 2017 | |||||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||||
| 学位授与年月日 | 2018-03-23 | |||||||||
| 報告番号 | ||||||||||
| 学位授与番号 | 甲第8480号 | |||||||||
| NDLリンク | ||||||||||
| 自動収集／送信 | 自動収集 | |||||||||
| URL | https://dl.ndl.go.jp/pid/11123077 | |||||||||
| CiNii Research | ||||||||||
| CRID | 1910302385732781056 | |||||||||
| URL | https://cir.nii.ac.jp/crid/1910302385732781056 | |||||||||
