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アイテム
低加速電子線 SEM / STEM を用いた局在場可視化技術
http://hdl.handle.net/2241/00151877
http://hdl.handle.net/2241/00151877aff524b8-97be-4ffe-aca8-1fe7d2504f3d
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
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Item type | Journal Article(1) | |||||||
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公開日 | 2018-06-04 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 低加速電子線 SEM / STEM を用いた局在場可視化技術 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | Visualization of Localized Field Using Deflection of Low-Energy Electron Beam with SEM/STEM | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ | journal article | |||||||
著者 |
藤田 淳一
× 藤田 淳一
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著者情報 | ||||||||
表示名 | 数理物質系; 藤田, 淳一; フジタ, ジユンイチ; FUJITA, Jun-ichi | |||||||
URL | http://trios.tsukuba.ac.jp/researcher/0000000742 | |||||||
書誌情報 |
ja : Journal of the Vacuum Society of Japan (真空) 巻 60, 号 10, p. 397-405, 発行日 2017-10 |
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PISSN | ||||||||
収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||
収録物識別子 | 1882-2398 | |||||||
NCID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AN00119871 | |||||||
アクセス権 | ||||||||
アクセス権 | open access | |||||||
権利情報 | ||||||||
権利情報 | © 2017 The Vacuum Society of Japan | |||||||
出版者 | ||||||||
出版者 | 公益社団法人日本表面真空学会 | |||||||
出版者別名 | ||||||||
出版者 | The Vacuum Society of Japan | |||||||
出版タイプ | ||||||||
出版タイプ | AM | |||||||
DOI | ||||||||
関連タイプ | isVersionOf | |||||||
関連識別子 | https://doi.org/10.3131/jvsj2.60.397 | |||||||
関連情報 | ||||||||
関連タイプ | isVersionOf | |||||||
関連識別子 | https://www.jstage.jst.go.jp/article/jvsj2/60/10/60_17-RV-022/_article |