WEKO3
アイテム
Intrinsic origin of electron scattering at the 4H-SiC(0001)/SiO2 interface
http://hdl.handle.net/2241/00146299
http://hdl.handle.net/2241/0014629901d72972-7b17-4ae8-84e8-8f4321a934ae
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
PRB_95-4-041302 (1.6 MB)
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| Item type | Journal Article(1) | |||||
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| 公開日 | 2017-05-30 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Intrinsic origin of electron scattering at the 4H-SiC(0001)/SiO2 interface | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | open access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
| 著者 |
Iwase, Shigeru
× Iwase, Shigeru× Kirkham, Christopher James× 小野, 倫也 |
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| 書誌情報 |
en : Physical review B 巻 95, 号 4, p. 041302, 発行日 2017-01 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||
| 収録物識別子 | 2469-9950 | |||||
| NCID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA11187113 | |||||
| DOI | ||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1103/PhysRevB.95.041302 | |||||
| 権利情報 | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 権利情報 | © 2017 American Physical Society | |||||
| 出版タイプ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | American Physical Society | |||||
| 言語 | en | |||||
