WEKO3
アイテム
p(2×2) Phase of Buckled Dimers of Si(100) Observed on n-Type Substrates below 40 K by Scanning Tunneling Microscopy
http://hdl.handle.net/2241/100022
http://hdl.handle.net/2241/1000224b2fe401-f9ac-43a4-891a-14e623c098ac
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | Journal Article(1) | |||||
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公開日 | 2008-07-18 | |||||
タイトル | ||||||
言語 | en | |||||
タイトル | p(2×2) Phase of Buckled Dimers of Si(100) Observed on n-Type Substrates below 40 K by Scanning Tunneling Microscopy | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
資源タイプ | ||||||
資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
タイプ | journal article | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | open access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
著者 |
Hata, Kenji
× Hata, Kenji× 吉田, 昭二× 重川, 秀実 |
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書誌情報 |
en : Physical review letters 巻 89, 号 28, p. 286104, 発行日 2002-12 |
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ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | PISSN | |||||
収録物識別子 | 0031-9007 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AA00773679 | |||||
DOI | ||||||
関連タイプ | isIdenticalTo | |||||
識別子タイプ | DOI | |||||
関連識別子 | https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.89.286104 | |||||
PubMed番号 | ||||||
識別子タイプ | PMID | |||||
関連識別子 | 12513167 | |||||
権利 | ||||||
言語 | en | |||||
権利情報 | (c) 2002 The American Physical Society | |||||
出版タイプ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
出版者 | ||||||
言語 | en | |||||
出版者 | American Physical Society |