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アイテム / 炭化ケイ素(SiC)MOS界面準位の起源と移動度劣化メカニズムの分光学的解明 / 25286054seika
25286054seika
ファイル | ライセンス |
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25286054seika.pdf (272.5 kB) sha256 224372004a5ab8b41670817bec436a5d65a1b6e073f1a9b6dbdd7792c91e67ac |
公開日 | 2018-01-31 | |||||
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ファイル名 | 25286054seika.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/43893/files/25286054seika.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | abstract | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 272.5 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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