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アイテム / Effect of Boron Incorporation on Slow Interface Traps in SiO2/4H-SiC Structures / 20170510_okamoto
20170510_okamoto
ファイル | ライセンス |
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20170510_okamoto.pdf (214.6 kB) sha256 12d9796ff5ca716911ace3bafe842f33d9604892d5b74aced7a436f50c0b2767 |
公開日 | 2017-05-12 | |||||
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ファイル名 | 20170510_okamoto.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/41133/files/20170510_okamoto.pdf | |||||
ラベル | Effect of Boron Incorporation on Slow Interface Traps in SiO2/4H-SiC Structures | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 214.6 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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