WEKO3
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Impact of the Coulomb interaction on nano-scale silicon device characteristics
http://hdl.handle.net/2241/116755
http://hdl.handle.net/2241/11675576d2d152-0ad0-4003-bc04-0d94e3f60b0d
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | Journal Article(1) | |||||
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公開日 | 2012-04-03 | |||||
タイトル | ||||||
言語 | en | |||||
タイトル | Impact of the Coulomb interaction on nano-scale silicon device characteristics | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
資源タイプ | ||||||
資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
タイプ | journal article | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | open access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
著者 |
佐野, 伸行
× 佐野, 伸行 |
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書誌情報 |
en : Journal of computational electronics 巻 10, 号 1-2, p. 98-103, 発行日 2011-06 |
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ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | PISSN | |||||
収録物識別子 | 1569-8025 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AA1182882X | |||||
DOI | ||||||
関連タイプ | isVersionOf | |||||
識別子タイプ | DOI | |||||
関連識別子 | https://doi.org/10.1007/s10825-010-0327-6 | |||||
権利 | ||||||
言語 | en | |||||
権利情報 | © Springer Science+Business Media LLC 2010 The original publication is available at www.springerlink.com |
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出版タイプ | ||||||
出版タイプ | AM | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||
出版者 | ||||||
言語 | en | |||||
出版者 | Springer Science |