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半導体量子ドットにおけるコヒーレンスの超高感度光検出 : 光ヘテロダイン検出法を利用したフォトンエコー
http://hdl.handle.net/2241/100157
http://hdl.handle.net/2241/1001575ebe3475-a52f-4ef0-873a-669b5bd8da3a
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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物理学会誌_62-8.pdf (1.1 MB)
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Item type | Journal Article(1) | |||||
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公開日 | 2008-08-11 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 半導体量子ドットにおけるコヒーレンスの超高感度光検出 : 光ヘテロダイン検出法を利用したフォトンエコー | |||||
言語 | ja | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | journal article | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | open access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
著者 |
池沢, 道男
× 池沢, 道男× 舛本, 泰章 |
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書誌情報 |
ja : 日本物理学会誌 巻 62, 号 8, p. 609-613, 発行日 2007-08 |
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ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | PISSN | |||||
収録物識別子 | 0029-0181 | |||||
NCID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00196952 | |||||
出版タイプ | ||||||
出版タイプ | AM | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 日本物理学会 | |||||
言語 | ja |