WEKO3
アイテム / Single silicon vacancy-oxygen complex defect and variable retention time phenomenon in dynamic random access memories / APL_88
APL_88
ファイル | ライセンス |
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APL_88.pdf (369.6 kB) sha256 9f3ef53fdf3ecd68817e90dbcf47271a6d9898cceeeeac364982a2a80c9d54b8 |
公開日 | 2007-04-06 | |||||
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ファイル名 | APL_88.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/7570/files/APL_88.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 369.6 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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