WEKO3
アイテム / Electrically detected magnetic resonance study on interface defects at nitrided Si-face, a-face, and m-face 4H-SiC/SiO2 interfaces / APL_116-17
APL_116-17
ファイル | ライセンス |
---|---|
APL_116-17.pdf (2.3 MB) sha256 b1b41e7b9a6c20091ba4ae40f27c6b3ead270c64f93f6b253a0a9b898a7e85d1 |
公開日 | 2020-10-16 | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
ファイル名 | APL_116-17.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/56199/files/APL_116-17.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 2.3 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
---|