@misc{oai:tsukuba.repo.nii.ac.jp:00055153,
 author = {大橋, 輝之},
 month = {},
 note = {2019},
 title = {SiC-MOSFETの新規信頼性評価手法の提案とチャネル移動度律速機構に関する研究},
 year = {2020},
 yomi = {オオハシ, テルユキ}
}