WEKO3
アイテム / Study of biaxial stress effect on electronic properties at the 4H-SiC-MOS interface / DA09380
DA09380
ファイル | ライセンス |
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DA09380.pdf (4.8 MB) sha256 0dc53454f0d95d60b87d2c6f96e493685d61663b903286caf8d1985ece55796b |
公開日 | 2020-07-27 | |||||
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ファイル名 | DA09380.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/55152/files/DA09380.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 4.8 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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