WEKO3
アイテム / Electrically detected-magnetic-resonance identifications of defects at 4H-SiC(000 1 ¯)/SiO2 interfaces with wet oxidation / APL_115-15
APL_115-15
ファイル | ライセンス |
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APL_115-15.pdf (1.7 MB) sha256 d5237a1131e255cbfd1b8cbe24a27ee3015307d06146ab7ca37f2bf836d276a9 |
公開日 | 2020-06-29 | |||||
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ファイル名 | APL_115-15.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/54834/files/APL_115-15.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 1.7 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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