WEKO3
アイテム / Interface carbon defects at 4H-SiC(0001)/SiO2 interfaces studied by electron-spin-resonance spectroscopy / APL_113-6
APL_113-6
ファイル | ライセンス |
---|---|
APL_113-6.pdf (1.2 MB) sha256 ca270ed78bd01555c8f1142b3c77657beb5af785b9bee4d2d941e0764df9579f |
公開日 | 2019-07-18 | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
ファイル名 | APL_113-6.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/51715/files/APL_113-6.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 1.2 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
---|