WEKO3
アイテム / Modeling and Characterization of Near-Interface Traps in SiC Metal-Oxide-Semiconductor Devices / DA08808
DA08808
ファイル | ライセンス |
---|---|
DA08808.pdf (2.6 MB) sha256 8b2b0bc21206871ce1e78e587b1b8a137942ac1fda8223ea907956c6078d04d8 |
公開日 | 2018-11-22 | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
ファイル名 | DA08808.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/48302/files/DA08808.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 2.6 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
---|