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アイテム / シリコンMOSゲートSiO2膜欠陥の詳細解析および水素による絶縁膜劣化モデリング / DA07981
DA07981
ファイル | ライセンス |
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DA07981.pdf (13.9 MB) sha256 27463e0b1c6b377f28abfb17b71f0f56fe3cf637833e60a2529620854ca436ef |
公開日 | 2017-10-04 | |||||
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ファイル名 | DA07981.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/43308/files/DA07981.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 13.9 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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