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アイテム / シリコンMOSゲートSiO2膜欠陥の詳細解析および水素による絶縁膜劣化モデリング / A7981
A7981
ファイル | ライセンス |
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A7981.pdf (184.9 kB) sha256 94e49f3d5ada35d5c2f117389858094cadbb0a3aca033a0b88d57df29e6cb2bb |
公開日 | 2017-09-29 | |||||
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ファイル名 | A7981.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/43227/files/A7981.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | abstract | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 184.9 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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