@misc{oai:tsukuba.repo.nii.ac.jp:00043227,
 author = {東, 悠介},
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 note = {2016, 【要旨】},
 title = {シリコンMOSゲートSiO2膜欠陥の詳細解析および水素による絶縁膜劣化モデリング},
 year = {2017}
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