WEKO3
アイテム / First-Principles Study on Interlayer States at the 4H-SiC/SiO2 Interface and the Effect of Oxygen-Related Defects / JPSJ_85-2
JPSJ_85-2
ファイル | ライセンス |
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JPSJ_85-2.pdf (3.0 MB) sha256 64c52634c6047c1ec4e4f3b51e8eb18889dbee091d06674a3b1c76007c2af457 |
公開日 | 2016-04-01 | |||||
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ファイル名 | JPSJ_85-2.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/37568/files/JPSJ_85-2.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 3.0 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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