WEKO3
アイテム / Measurement of valence-band offset at native oxide/BaSi2 interfaces by hard x-ray photoelectron spectroscopy / JAP_119-2
JAP_119-2
ファイル | ライセンス |
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JAP_119-2.pdf (1.4 MB) sha256 ff22a5ecdbccf051d588abb9cdd1a04a12b495689ff6da1b45b27b5942b3ba0e |
公開日 | 2016-01-18 | |||||
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ファイル名 | JAP_119-2.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/36626/files/JAP_119-2.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 1.4 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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