WEKO3
アイテム / Observation and Analysis of Neutron-Induced Single-Event Burnout in Silicon Power Diodes / IEEEPE_30-5
IEEEPE_30-5
ファイル | ライセンス |
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IEEEPE_30-5.pdf (3.7 MB) sha256 3535421f13e2c8c795c24d5d2cd2ba8fcf2c10df958bf9e2e02b9e2dc07e4822 |
公開日 | 2015-02-20 | |||||
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ファイル名 | IEEEPE_30-5.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/32478/files/IEEEPE_30-5.pdf | |||||
ラベル | IEEEPE_30-5 | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 3.7 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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