WEKO3
アイテム / Potential variation around grain boundaries in BaSi2 films grown on multicrystalline silicon evaluated using Kelvin probe force microscopy / JAP_116-23
JAP_116-23
ファイル | ライセンス |
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JAP_116-23.pdf (1.8 MB) sha256 81edb2f059e456ebd4e8db2e09eb67823350057659547eb8d01ff899da67baa8 |
公開日 | 2015-01-27 | |||||
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ファイル名 | JAP_116-23.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/32151/files/JAP_116-23.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 1.8 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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