WEKO3
アイテム / Potential variations around grain boundaries in impurity-doped BaSi2 epitaxial films evaluated by Kelvin probe force microscopy / JAP_116-12
JAP_116-12
ファイル | ライセンス |
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JAP_116-12.pdf (2.1 MB) sha256 7bf4a824d91b429f1606c6f9f499036a6101a54ad808921c377a80595d5c7dd6 |
公開日 | 2014-11-20 | |||||
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ファイル名 | JAP_116-12.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/31718/files/JAP_116-12.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 2.1 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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