WEKO3
アイテム / Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) distribution in n-MOSFET with HfSiON gate dielectrics under DC and AC stressing / MR_53-12
MR_53-12
ファイル | ライセンス |
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MR_53-12.pdf (440.7 kB) sha256 47da68c3ede6d0d43cbf8bbf3786db18a82553c6c4759c475957f4dfff1174f7 |
公開日 | 2014-02-13 | |||||
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ファイル名 | MR_53-12.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/29502/files/MR_53-12.pdf | |||||
ラベル | MR_53-12.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 440.7 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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