WEKO3
アイテム / Electrical characterization and conduction mechanism of impurity-doped BaSi2 films grown on Si(111) by molecular beam epitaxy / TSF_522
TSF_522
ファイル | ライセンス |
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TSF_522.pdf (346.8 kB) sha256 9c7f19f49c5005448cae8abb69a4b4fce48ea79fc3ba5fd8f2b94c22d090c280 |
Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International (CC BY-NC-ND 4.0) |
公開日 | 2012-12-17 | |||||
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ファイル名 | TSF_522.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/28085/files/TSF_522.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 346.8 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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