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アイテム / Fixed nitrogen atoms in the SiO2/SiC interface region and their direct relationship to interface trap density / APL_99-18
APL_99-18
ファイル | ライセンス |
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APL_99-18.pdf (337.3 kB) sha256 e054cb3f4ca9a9928c6557f616cb9172e461fc6d6ad6fe844bef04f6eaffe644 |
公開日 | 2011-12-08 | |||||
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ファイル名 | APL_99-18.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/25838/files/APL_99-18.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 337.3 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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