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アイテム / Fluorine-vacancy defects in fluorine-implanted silicon studied by electron paramagnetic resonance / ApplPhysLett_97-04
ApplPhysLett_97-04
ファイル | ライセンス |
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ApplPhysLett_97-04.pdf (326.2 kB) sha256 2be4374a716568710c27ac48de6b7a4fcf8b3c507e2a1c00539a4a1214f7b00d |
公開日 | 2010-09-14 | |||||
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ファイル名 | ApplPhysLett_97-04.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/20331/files/ApplPhysLett_97-04.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 326.2 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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