WEKO3
アイテム / Electrical, optical and structural characterization of extended defects in 4H-SiC films and multicrystalline Si / A5169
A5169
ファイル | ライセンス |
---|---|
A5169.pdf (2.0 MB) sha256 d3b9a9a34045c23999d8c14cce6fdd90c8e2c5c7c5bca662935cb6173d2468f1 |
公開日 | 2010-06-24 | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
ファイル名 | A5169.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/19479/files/A5169.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | abstract | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 2.0 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
---|