WEKO3
アイテム / In situ spectroscopic measurement of transmitted light related to defect formation in SiO2 during femtosecond laser irradiation / APL_83-17
APL_83-17
ファイル | ライセンス |
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APL_83-17.pdf (125.4 kB) sha256 aadd6ca28d52e6b48eff47c7a30ecf907e461a6aaff27f3598edef4c36c79be1 |
公開日 | 2009-12-24 | |||||
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ファイル名 | APL_83-17.pdf | |||||
本文URL | https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/18546/files/APL_83-17.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 125.4 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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