2024-03-28T21:53:05Z
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/oai
oai:tsukuba.repo.nii.ac.jp:00032309
2023-04-21T06:37:55Z
3:233:244
CMOS向け高誘電率ゲート絶縁膜の長期信頼性
藤井, 泉
108270
筑波大学
University of Tsukuba
博士(工学)
Doctor of Philosophy in Engineering
2013
doctoral thesis
2014
2014-02-28
application/pdf
甲第6749号
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/32309/files/DA06749.pdf
jpn
open access