2024-03-28T10:38:10Z
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/oai
oai:tsukuba.repo.nii.ac.jp:00051165
2023-05-15T08:06:39Z
3:233:244
電子スピン共鳴分光によるC面4H-SiC/SiO2界面欠陥の起源解明
鹿児山, 陽平
カゴヤマ, ヨウヘイ
open access
2018
この博士論文は、全文公表に適さないやむを得ない事由があり要約のみを公表していましたが、解消したため、2023年(令和5年)5月15日に全文を公表しました。
2019
jpn
doctoral thesis
https://doi.org/10.15068/0000051165
http://hdl.handle.net/2241/00156621
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/records/51165
10.15068/0000051165
甲第8952号
博士(工学)
Doctor of Philosophy in Engineering
2019-03-25
12102
筑波大学
University of Tsukuba
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/51165/files/DA08952.pdf
application/pdf
6.4 MB
2023-05-15