2024-03-29T02:10:14Z
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/oai
oai:tsukuba.repo.nii.ac.jp:00048302
2023-04-24T01:07:24Z
3:233:244
Modeling and Characterization of Near-Interface Traps in SiC Metal-Oxide-Semiconductor Devices
シリコンカーバイド金属-酸化膜-半導体デバイスにおける界面近傍酸化膜トラップのモデリングと評価
Xufang, Zhang
張, 旭芳
open access
2018
2018
eng
thesis
https://doi.org/10.15068/00153791
http://hdl.handle.net/2241/00153791
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/records/48302
10.15068/00153791
甲第8808号
博士(工学)
Doctor of Philosophy in Engineering
2018-09-25
12102
筑波大学
University of Tsukuba
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/48302/files/DA08808.pdf
application/pdf
2.6 MB
2018-11-22