2024-03-29T12:45:57Z
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/oai
oai:tsukuba.repo.nii.ac.jp:00031470
2023-06-12T02:17:29Z
3:267:274
CMOS向け高誘電率ゲート絶縁膜の長期信頼性
藤井, 泉
open access
2013
【要旨】
2014
jpn
thesis
http://hdl.handle.net/2241/00122229
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/records/31470
http://hdl.handle.net/2241/00123178
甲第6749号
博士(工学)
Doctor of Philosophy in Engineering
2014-02-28
12102
筑波大学
University of Tsukuba
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/record/31470/files/A6749.pdf
application/pdf
200.2 kB